為保證電工電子產(chǎn)品的可靠性，必須配備能提供溫度、濕度和壓力三個參數(shù)的綜合變化量的溫濕度三綜合試驗箱設(shè)備。在國內(nèi)現(xiàn)有的溫、濕、壓試驗設(shè)備中，只能提供靜態(tài)環(huán)境，不能保證其溫度、濕度、壓力變化速度及溫、濕度均勻性。動態(tài)試驗設(shè)備是環(huán)境試驗科學發(fā)展的需要，研究這類三個參數(shù)是其必然趨勢。

　　實驗分析：

 

　　1、試驗點1和10位于溫濕度三綜合試驗箱的中層，正對風機出風口，風速大；試驗點2、8、9位于角落，風速小。

 

　　2、風速與氣壓基本呈線性關(guān)系，風速隨氣壓上升而上升，隨氣壓下降而下降，呈正比關(guān)系。

 

　　3、箱內(nèi)各點風速曲線，斜率不同，常壓下風速位較大的斜率較大，風速隨氣壓下降衰減得多；風速小的曲線平直，且風速隨氣壓下降漫漫。

 

　　三種不同壓力冷卻時間的實驗表明，當氣壓降低時，冷卻速度減緩，但在低氣壓（100毫巴）仍然可以實現(xiàn)冷卻。當氣壓在500毫巴時，由30℃降至-70℃，冷卻時間為常壓下冷卻時間的1.2倍，而當氣壓在100毫巴時，冷卻時間為常壓下的1.6倍。溫濕度三綜合試驗箱內(nèi)同時進行復疊制冷試驗，-50℃前冷卻曲線為線性，隨氣壓降低，冷卻速率提前下降，冷卻曲線下折。

 

　　實驗結(jié)論：

 

　　1、測試設(shè)備中的氣壓超過500毫巴時，冷熱交換元件的設(shè)計應(yīng)以對流換熱為主。

 

　　2、要求檢驗產(chǎn)品在低溫低氣壓動態(tài)變化過程中的性能，試驗設(shè)備應(yīng)而且可能設(shè)計成同時冷卻和降壓，為保證冷卻速度，其冷卻能力應(yīng)比常壓增加20%以上。

 

　　3、動態(tài)低溫低壓設(shè)備，其溫度場均勻性允許偏差應(yīng)比常壓下的允許偏差位適當擴大。溫度均勻性偏差容許值可在常壓下計算的500毫巴低溫低壓試驗裝置。

 

　　4、低溫低壓試驗設(shè)備在低控制溫度、低氣壓條件下出現(xiàn)很大溫差，可選擇在極端條件下檢測溫差。

 

　　5、當試驗箱內(nèi)的控制溫度接近環(huán)境溫度時，其溫度場分布均勻。為了提高測溫設(shè)備的精度，對溫度精度要求較高的測溫設(shè)備，可選擇夾層結(jié)構(gòu)。

 

　　經(jīng)過上述溫濕度三綜合試驗箱的測試分析及結(jié)論，通過對溫度、濕度及壓力對設(shè)備的影響的介紹，相信大家對設(shè)備的了解會更詳細。